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超光譜影像原理與應用技術研討會
  刊登日期:2006/12/6
 
主辦單位:
工研院量測中心
協辦單位:
地  點: 新竹市光復路二段321號17館國際會議廳
報名費用: NT$5,000元/每人
報名方式: 現場報名
舉辦時間: 2006/12/20(AM9:00) ~ 12/21(PM4:00)
報名時間: 2006/12/14() ~ ()
 
 

  光譜影像(Spectral Image)同時包含待測物光譜資訊(Spectral Information)、空間資訊(Spatial Information)及強度資訊(Intensity Information),是一門結合光譜量測(Spectroscopy Measurement) 、數位影像處理(Digital Image Processing)及輻射能測量(Radiometry)的領域。
本技術研討會即為針對超光譜影像的原理及校正方法,作有系統的闡述。同時亦針對超光譜影像的應用實務,舉凡發光二極體(LED)或是LCD/TFT面板的光量光譜特性的快速檢測、結合遙測技術應用於環境監控及生態保護、生醫顯微影像光譜的特徵資訊擷取比對、半導體矽晶圓的瑕疵檢驗或塑膠環保材質的回收分類等都將在本技術研討會做廣泛的介紹。本研討會適合光電、生物、生醫、遙測等領域產業、有理工背景及相關技術業者參加。

課程內容:
超光譜影像 -- 原理與應用(一)
超光譜影像 -- 原理與應用(二)
超光譜攝像機的調整與校正
系統展示與實務操作
超光譜攝像機在LED/LCD等顯示/照明領域的應用
超光譜攝像機在遙測領域的應用
近紅外超光譜攝像機在半導體/環保領域的應用
應用系統展示及實物操作
 

 


 
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